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◆ 技術講演・実習会「超高分解能走査型電子顕微鏡の基礎と応用」の御案内

 
 本年1月に、JKAの補助により超高分解能走査型電子顕微鏡
FE-SEM仕様)を導入いたしました。
 既に多くの皆様からご利用いただいておりますが、改めて導入した機器の機能や特徴について理解を深め、企業様の品質管理、製品開発に活用して頂くため、下記のとおり技術講演会及び実習会を開催いたします。
 ご多忙中とは存じますが、多数ご参加いただきますよう御案内申し上げます。(御案内と参加申込み

日 時:平成3019日(火)13:20〜16:40
【申込期限:平成3013日(水)】<参加費無料>
*詳細については、下記担当までお問い合せください。
お問い合わせ先】
  電子情報システム部
  MEMSグループ 渡部、矢作
   (Tel. 023-644-3222)   

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